焦慮癥是常見的情緒障礙類疾病，嚴重影響著患者正常生活并危害其身心健康。前額葉皮層是焦慮的重要責任腦區。應用清醒動物在體多通道微電極陣列記錄技術可以同時獲取大鼠在高架十字迷宮（EPM）焦慮狀態的動作電位和行為學數據。基于極大似然估計方法（MLE）構建動作電位因果網絡，計算網絡連接強度和全局效率，定量表征大鼠焦慮狀態內側前額葉皮層動作電位因果網絡連接模式。研究發現大鼠在高架十字迷宮封閉臂的進入次數（44.13±6.99）和停留時間（439.76±50.43）s，均高于開放臂的進入次數（16.50±3.25，P<0.001）和停留時間［（160.23±48.22）s，P<0.001］。封閉臂中的動作電位因果網絡連接強度（0.017 3±0.003 6）和全局效率（0.044 2±0.012 8），均高于開放臂的網絡連接強度（0.010 4±0.003 2，P<0.01）和全局效率（0.034 8±0.011 4，P<0.001），從封閉臂走向開放臂過程中連接強度與全局效率減弱。結果表明內側前額葉皮層動作電位因果網絡變化與焦慮狀態有關，該結果可為研究焦慮狀態的前額葉皮層腦網絡機制提供支持。