目的 分析兒童額葉癲癇的臨床特征、手術預后以及兩者的相關性。方法 回顧性分析2017年1月—2019年12月復旦大學附屬兒科醫院三級癲癇中心收治并進行額葉致癇灶切除手術的額葉癲癇患兒18例，收集臨床、頭顱影像學、腦電圖、智力發育以及病理等資料，術后隨訪至少2年以上并記錄癲癇發作情況，利用單因素方法分析手術預后和臨床表型之間的相關性。結果 18例患兒中男11例、女7例，平均手術年齡（6.8±2.73）歲，年齡范圍21月齡～11歲，病程1個月～9年。17例表現為局灶性發作、1例表現為全面性癲癇性痙攣發作。發作間期額區放電11例、額區外多腦區放電7例，發作期額區起始9例、額區外起始9例。核磁共振成像陽性改變14例、陰性4例。病因分別為局部皮層發育不良14例、發育性腫瘤2例、結節性硬化和膠質增生各1例。致癇病灶直接切除11例、立體定向腦電圖深部電極植入后致癇灶切除7例。根據Engel分級，術后2年Ⅰ級14例（77.8%）、Ⅱ級1例（5.6%）、Ⅲ級2例（11.0%）、Ⅳ級1例（5.6%）。術后預后在性別、起病年齡、病程、致癇灶側別、核磁共振成像陽性發現、發作間期放電和發作期放電起始、病因、智力發育水平以及立體定向腦電圖植入上無統計學差異，在致癇病灶或致癇灶未能完成切除上存在統計學差異。結論 兒童額葉癲癇中局部皮層發育不良是最常見的病因，通過手術完整切除致癇灶可以獲得良好的癲癇發作控制的結局。