目的采用大腦磁共振T1圖像及先進的圖像分析軟件，構建初次就診的特發性全面性癲癇（Idiopathic generalized epilepsy，IGE）大腦皮質厚度腦圖譜。方法選取2020年1月1日—2021年12月31日于壽光市人民醫院就診的27例初診為IGE患者和29名正常對照組獲得高分辨率三維T1圖像。利用Freesurfer軟件的定位識別計算系統，計算每個腦區皮質厚度的具體數值，利用圖像分析軟件，將皮質厚度數值制作成腦圖譜。利用兩樣本t檢驗，形成差異腦圖譜，分析IGE患者同正常人皮質厚度的差異。運用配對t檢驗進行對兩組數據進行組內比較，探討皮質厚度偏側性的改變。結果IGE腦圖譜中皮質厚度較厚的腦區為右左側顳極、右左側內嗅皮層、右側前扣帶回頭部、右左側島葉、右左側顳中回、右側顳下回、左側前扣帶回頭部、左側前扣帶回尾部、左側顳下回、左右側梭狀回、左側額極；皮質厚度較薄的區域為右左側距狀旁回、右左側楔葉、左右側舌回、左右側中央后回、左側枕外側回、右左側頂上回；與正常人腦皮質厚度腦圖譜比較，皮質厚度分布規律大致相仿；與正常人比較，IGE大腦皮質厚度發生改變的區域為雙側額上回、雙側中央后回、雙側中央前回、雙側舌回、左側楔葉、雙側內嗅皮質及顳極。IGE左右大腦半球皮質厚度存在偏側性的腦區為前扣帶回尾部、楔葉、頂下回、枕外側回、中央后回、前扣帶回頭部、緣上回；與正常人相比，IGE大腦皮質厚度存在偏側性的腦區的數量減少。結論本研究從早期特發性全面性癲癇大腦皮層厚度腦圖譜中發現其分布規律及偏側性,為之后腦科學的研究提供影像結構基礎。