目的 應用基于局部一致性（ReHo）、低頻振幅（ALFF）、低頻振幅分數（fALFF）的靜息態功能磁共振成像（Resting-state functional magnetic resonance imaging，RS-fMRI）技術，探索伴中央顳區棘波的兒童良性癲癇（Benign epilepsy of childhood with centrotemporal spikes，BECT）患兒認知功能受損的影響因素及神經機制。 方法 納入 2015 年 4 月?2018 年 3 月就診于天津醫科大學總醫院的 BECT 患兒 14 例，均行韋氏智力量表評估、長時程視頻腦電圖（VEEG）監測及頭顱核磁共振（MRI）、RS-fMRI 檢查，計算慢波睡眠期棘慢波放電指數（SWI）、總智商（FIQ）、言語智商（VIQ）、操作智商（PIQ）。按 FIQ 分為兩組：FIQ <90 組［70～89 分，平均（78.3±8.9）分，6 例］和 FIQ≥90 組［90～126 分，平均（116.6±12.9）分，8 例］，將兩組進行對比，并分析臨床因素與智力評估結果的相關性；從 ReHo、ALFF、fALFF 三種方法對兩組進行全腦水平兩獨立樣本t 檢驗，觀察腦激活區的差異；結合臨床因素、認知測評結果進行綜合對比分析。 結果 FIQ <90 組的 SWI 高于 FIQ≥90 組，差異具有統計學意義（ P<0.05）。FIQ、VIQ、PIQ 均與 SWI 呈負相關（P<0.05）；FIQ、PIQ 均與總發作次數呈負相關（P<0.05）。FIQ <90 組與 FIQ≥90 組相比較，激活減弱的腦區包括雙側楔前葉、后扣帶回及枕葉，增強的腦區包括左側前額葉，雙側額上回內側，右側中央前回、補充運動區、角回、緣上回及顳中回，雙側島葉及皮層下灰質結構。 結論 慢波睡眠期頻繁癇樣放電及反復臨床發作是 BECT 認知受損的危險因素，兩者可引起與認知相關的局部腦區及默認網絡的功能異常，從而導致其認知受損。