目的研究單側前顳葉切除術(Anterior temporal lobectomy,ATL)對偏側癲癇發作起源優勢的雙側顳葉癲癇(Temporal lobe epilepsy,TLE)的癲癇控制及安全性。 方法收集2004年9月-2012年6月間,23例診斷明確的雙側TLE患者,根據治療方案分為手術組和藥物組,其中15例手術組均經過顱內電極腦電圖證實為偏側癲癇發作起源優勢的雙側顳葉癲癇,完成單側ATL。藥物組8例,均進行合理的多藥治療。兩組患者入組后隨訪2~5年,按Engel Ⅰ-Ⅳ分級統計兩組的癲癇控制情況。并分析治療后2年兩組患者智商、生活質量變化、患者滿意度和手術組的術后并發癥。 結果手術組15例單側ATL組術后1、2、5年的癲癇控制良好(Engel Ⅰ-Ⅱ級)率依次為66.7%(10/15)、60.0%(9/15)和50.0%(5/10),而藥物治療組8例為12.5%、0%和0%,兩組比較均有統計學意義(P<0.05)。手術組癲癇控制良好與術前病程短相關。同時術后兩組患者的入組后2年的生活質量和總智商變化的差異也有統計學意義(P<0.05),其中生活質量手術組提高5.27±6.45,藥物組下降1.40±3.58,術后生活質量改變與良好癲癇控制及術前病程短有關。 結論顱內電極腦電圖對雙側TLE診斷非常重要,單側ATL術后癲癇控制良好,經過慎重選擇的偏側癲癇發作起源優勢的雙側TLE將不會導致嚴重智商受損。