• 1. 中國藥科大學 理學院(南京 211198);
  • 2. 南京師范大學 外國語學院(南京 210097);
導出 下載 收藏 掃碼 引用

本文旨在研究不同 N-back 認知任務下正常腦老化的全腦事件相關電位 P300 的變化趨勢。通過對 15 個正常年輕人和 10 個正常老年人進行 N-back 認知任務下全腦的事件相關電位 P300 的測定,將所得結果進行分析。結果表明,在執行相同負荷的認知任務時,老年人的 P300 潛伏期較年輕人在全腦范圍內增長;峰值較年輕人在前額-中央區增加,其中在前額區增加的差異具有統計學意義;在認知任務負荷增加時,老年人峰值在全腦范圍內增大,以額-中央區為主,但老年人在兩種負荷認知任務下的峰值差異不具有統計學意義;而潛伏期在右腦額-中央區縮短,在兩種負荷認知任務下的潛伏期差異具有統計學意義。因此,全腦事件相關電位 P300 顯示正常腦老化主要影響著前額區,且相比于低負荷認知任務,執行高負荷認知任務時更能反映老化對腦功能特征的影響。通過本文以上研究結果,期望可對早期老年癡呆患者的檢出具有啟示意義。

引用本文: 劉聰, 徐曉東, 戴好運, 侯鳳貞. 基于 N-back 認知任務的正常腦老化事件相關電位分析. 生物醫學工程學雜志, 2017, 34(6): 824-830. doi: 10.7507/1001-5515.201704031 復制

  • 上一篇

    基于脈搏波的警覺度檢測研究
  • 下一篇

    基于自回歸小波包熵特征融合算法的情感識別研究